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聊聊接触静电和非接触静电的区别
点击次数:710 更新时间:2023-11-24
  在工业中的危害:静电的产生在工业生产中是不可避免的,其造成的危害主要可归结为以下两种机理:
 
  1、静电放电(ESD)造成的危害:引起电子设备的故障或误动作,造成电磁干扰。
 
  2、击穿集成电路和精密的电子元件,或者促使元件老化,降低生产成品率。
 
  3、高压静电放电造成电击,危及人身安全。
 
  4、在多易燃易爆品或粉尘、油雾的生产场所极易引起爆炸和火灾。
 
  5、静电引力(ESA)造成的危害:电子工业:吸附灰尘,造成集成电路和半导体元件的污染,大大降低成品率。
 
  6、静电对LED灯珠的危害,因瞬间的电场或电流产生的热,使LED灯珠局部受伤,表现为漏电流迅速增加,仍能工作,但亮度降低(白光将会变色),寿命受损。
 
  7、因电场或电流损坏LED灯珠的绝缘层,导致LED灯珠出现损坏,无法工作,主要表现为死灯。
 
  静电测试方法:
 
  般情况下,静电测试分为两种方式,一种为接触静电测试,另-一种是非接触静电测试,通常电子元器件的接触防静电电压值要低于非接触防静电电压值。工业防静电标准:接触防静电电压6kV,非接触防静电电压8kV.
 

  静电测试前的准备工作:
 
  连接好准备测试的设备,确保测试前的设备是正常运行的。
 
  连接好静电放电测试仪,确保测试仪的地线与设备的地线相互连接,形成放电回路。
 
  接触式静电
 
  测试项目包括设备机箱外壳,电源接口,控制接口,以及通讯接口等。
 
  测试电压标准,测试静电电压从2kV开始增加,每次增加2kV,直到20kV为止,即测试静电电压分别为2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV。测试频率标准,测试放电分为两种频率,但放电次数均为10次。一种频率是1秒钟放电1次,连续放电10次,为低频静电放电测试;另-种频率是0.1秒钟放电1次,连续放电10次,为高频静电放电测试。测试通过标准,硬件无任何损坏,通讯正常,数据无错误,丢失等情况。测试停止标准,在测试某一项目时,如果硬件发生损坏,通讯异常或其他任何不正常的情况,测试将不向更高标准进行,而只统计当前测试结果。测试转为下一项。为提高测试精度,也可以在测试设备出现异常情况时,先调低静电电压1kV进行测试,如果测试通过,则调高静电电压0.5kV进行测试,如果测试不通过,则继续调低静电电压0.5kV进行测试,依次类推,调节幅度不断减小为0.25kV, 0.125 kV等,直到精度达到要求为止,统计临界静电电压测试结果,
 
  测试顺序标准,测试顺序为先确定电压,再确定频率。电压由低到高,频率由慢到快。即依次为2kV低频测试,2kV高频测试,4kV低频测试,4kV高频测试,直到20kV低频测试,20kV高频测试。在提高精度测试过程中也同样遵循先确定电压,再确定频率这一原则测试数据标准,测试某一项目时,在某一电压和频率下,如果连续20次测试通过,即判定在当前状态下,系统工作正常:否则统计连续20次测试过程中出错的次数,计算出错的概率,填入测试数据报表中。测试方法标准,先将静电枪对准被测试项目(如:机箱,各个接口),移动静电枪至被测试项目的表面,要求静电枪与被测试项目的表面保持垂直且接触,扣动静电枪扳机,待10次放电全部结束后,松开静电枪扳机,将静电枪从被测试项目表面移开,准备下一次测
 
  非接触式静电:
 
  测试项目包括设备机箱外壳,电源接口,控制接口,以及通讯接口等。
 
  测试电压标准,测试静电电压从2kV开始增加,每次增加2kV,直到20kV为止,即测试静电电压分别为2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV.测试通过标准,硬件无任何损坏,通讯正常,数据无错误,丢失等情况。
 
  测试停止标准,在测试某一项目时,如果硬件发生损坏,通讯异常或其他任何不正常的情况,测试将不向更高标准进行,而只统计当前测试结果。测试转为下一项。为提高测试精度,也可以在测试设备出现异常情况时,先调低静电电压1kV进行测试,如果测试通过,则调高静电电压0.5kV进行测试,如果测试不通过,则继续调低静电电压0.5kV进行测试,依次类推,调节幅度不断减小为0.25kV, 0.125 kV等,直到精度达到要求为止。
 
  测试顺序标准,测试顺序为电压由低到高。即依次为2kV测试,4kV测试,6kV测试,直到20kV测试。测试数据标准,测试某--项目时, 在某--电压下,如果连续20次测试通过,即判定在当前状态下,系统工作正常;否则统计连续20次测试过程中出错的次数,计算出错的概率,填入测试数据报表中。测试方法标准,先将静电枪对准被测试项目(如:机箱,各个接口)且相隔5厘米以上,扣动静电枪扳机,移动静电枪靠近被测试项目的表面,移动过程中要求静电枪与被测试项目的表面保持垂直,待空气放电结束后,将静电枪从被测试项目表面移开,松开静电枪扳机,准备下一次测试。
 
  注意:1.测试过程中,某元器件测试结果会因为元器件个体差异而有所不同,如保险,二极管等,这就需要对不同的元器件进行多次测量,求出所有元器件测试结果的平均值作为最终的测试结果。
 
  测试过程中,一般情况下,不能直接对芯片进行静电放电。如有特殊需要,一定要对某芯片进行静电放电测试时,应尽量减小每次静电增加的幅度,这样可以更好的测试出防静电电压真实值的接近值,使测试更加准确。
 
  测试过程中,为保障测试结果的准确性,每次静电放电结束后到下次静电放电开始前的时间间隔不能太小,要留给系统足够的恢复时间,即要留够系统电荷释放的时间,时间间隔一般为10秒钟。待系统电荷充分释放后,才能进行下一次测试。
 
  参考标准:
 
  ☆电子产品防静电放电控制手册GJB/Z105-98☆电子工业用合成纤维防静电绸性能及试验方法SJ/T11090-1996☆防静电鞋、导电鞋技术要求GB4385—1995☆电子产品制造防静电系统测试方法SJ/T10694-96☆ 电子元器件防静电要求QJ1693-89☆防静电操作系统技术要求QJ1950-90☆ 防静电安全工作台技术要求QJ2177-91☆ 静电测试方法QJ1875-90☆ 防静电操作系统通用规范QJ2846-96☆ 电子元器件制造防静电技术要求SJ/T10630-95☆ 电子设备制造防静电技术要求SJ/T10533-94☆ 《静电敏感器件使用规则》宣贯材料Q/W293-92-2☆ 电子计算机机房施工及验收规范SJ/T30003-93☆ 通讯设备静电防护通则YD/T754-1995☆ 静电敏感器件使用规则Q/W293-92☆ 电子仪器和设备静电要求QJ2245-92☆ 半导体器件使用规则QJ2225-92☆ 集成电路防静电包装管SJ/T10147-91☆ 通信机房静电防护通则YD/T754-95☆ 信息技术设备静电放电敏感度试验SJ20154-92☆ 电火工品生产防静电安全规程WJ1912-90☆ 防静电周转容器通用规范SJ/T11277-2002☆ 防静电活动地板通用规范SJ/T10796-2001☆ 防静电贴面板通用规范SJ/T11236-2001☆ 地板覆盖层和装配地板静电性能的试验方法SJ/T11159-98
 
  最新认证培训参考标准
 
  国际标准 IEC61340-5-1:2007
 
  美国标准ANSI/ESDS20.20-2007
 
  中国标准GJB3007-2009
 
  行业标准SJ/T10694-2006(中国行业标准FLOMCESD 标准)
 
  就认证标准而言,目前欧美流行的ESD体系有IEC、EIA、ESDA以及IPC四大类,其中IPC的ESD标准实际上是ESDA和EIA标准的引用,所以严格意义上流行的体系是三类。
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